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冷(leng)熱沖擊試(shi)驗(yan)箱滿足(zu)試(shi)驗(yan)標準：GB/T 2423.1-2001試(shi)驗(yan)，低溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)方法(fa)GB/T 2423.2-2001試(shi)驗(yan)，高溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)方法(fa)GB/T2423.22-2002試(shi)驗(yan)，溫(wen)(wen)度變化試(shi)驗(yan)方法(fa)。

南(nan)昌傳感器(qi)兩箱(xiang)式高低溫(wen)沖擊箱(xiang)是金屬、塑料(liao)、橡膠、電子等材(cai)料(liao)行業的(de)測試設備，用于測試材(cai)料(liao)結構或復(fu)合材(cai)料(liao)，在瞬間(jian)下經高溫(wen)及低溫(wen)的(de)連續環(huan)境下忍(ren)受的(de)程度，得(de)以在最(zui)短時間(jian)內(nei)檢測試樣因(yin)熱脹冷(leng)縮所引起的(de)化(hua)學變化(hua)或物理傷害。

三箱(xiang)式高(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱(xiang)用于汽車零部(bu)件(jian)(jian)：適用于考核產品(pin)（整機）、元器件(jian)(jian)、零部(bu)件(jian)(jian)等經受溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)急劇變化的能力，該溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)沖(chong)擊試(shi)驗(yan)能夠(gou)了解試(shi)驗(yan)樣(yang)品(pin)一次或連(lian)續多(duo)次因(yin)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)變化而(er)帶(dai)來(lai)的影響。影響溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)變化試(shi)驗(yan)的主要參數(shu)為(wei)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)變化范圍的高(gao)(gao)溫(wen)(wen)(wen)和低溫(wen)(wen)(wen)溫(wen)(wen)(wen)度(du)(du)值、樣(yang)品(pin)在高(gao)(gao)溫(wen)(wen)(wen)和低溫(wen)(wen)(wen)下的保持時間(jian)、以及試(shi)驗(yan)的循環次數(shu)等因(yin)素。

鄭州三(san)箱式(shi)高低溫(wen)沖(chong)(chong)擊(ji)試驗箱分為高溫(wen)區(qu)(qu)、低溫(wen)區(qu)(qu)、測(ce)(ce)試區(qu)(qu)三(san)部分，測(ce)(ce)試產(chan)品置(zhi)于測(ce)(ce)試區(qu)(qu)，沖(chong)(chong)擊(ji)時高溫(wen)區(qu)(qu)或低溫(wen)區(qu)(qu)的溫(wen)度沖(chong)(chong)入測(ce)(ce)試區(qu)(qu)進行沖(chong)(chong)擊(ji), 測(ce)(ce)試產(chan)品為靜(jing)態式(shi)。客(ke)戶根據(ju)要(yao)求做成二箱式(shi)沖(chong)(chong)擊(ji)箱也叫(jiao)吊(diao)籃式(shi)沖(chong)(chong)擊(ji)箱，相比三(san)箱式(shi)價(jia)格有優(you)惠(hui)。

汽車零部件高低(di)溫(wen)(wen)(wen)沖(chong)(chong)擊(ji)試驗(yan)箱設備(bei)區(qu)分為：高溫(wen)(wen)(wen)區(qu)、低(di)溫(wen)(wen)(wen)區(qu)、測試區(qu)三部分，測試產品置于(yu)測試區(qu)，沖(chong)(chong)擊(ji)時高溫(wen)(wen)(wen)區(qu)或低(di)溫(wen)(wen)(wen)區(qu)的溫(wen)(wen)(wen)度(du)沖(chong)(chong)入測試區(qu)進(jin)行沖(chong)(chong)擊(ji), 測試產品為靜態式。

長沙安德信高低溫沖擊(ji)試驗箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)主要是(shi)由(you)兩(liang)(liang)個(ge)測試箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)或者三(san)個(ge)測試構成(cheng)，高溫儲藏(zang)箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)、低溫儲藏(zang)箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)和(he)測試箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)，分(fen)別稱(cheng)為兩(liang)(liang)箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)式沖擊(ji)箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)和(he)三(san)箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)式沖擊(ji)箱(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)，需要詳細了解兩(liang)(liang)款設備的技術方案(an)了可以(yi)！