幾乎所有光器件(jian)在出(chu)廠(chang)前(qian)都要(yao)經歷光器件(jian)光器件(jian)快(kuai)速溫(wen)變(bian)循環(huan)箱進行高低溫(wen)循環(huan)測試(shi),每種(zhong)材(cai)料的(de)熱膨脹系數不一樣(yang),只(zhi)有在劇烈的(de)溫(wen)度(du)變(bian)化下,才能考驗不同材(cai)料是否存在失效風險。快(kuai)速溫(wen)變(bian)箱的(de)升降溫(wen)速率至少10℃/min,在85℃和-40℃這兩個溫(wen)度(du)點,還(huan)要(yao)停留(liu)足夠長的(de)時間讓(rang)器件(jian)達到環(huan)境溫(wen)度(du)。對于(yu)室(shi)內應用的(de)光模塊,溫(wen)循100次就OK,對于(yu)室(shi)外應用光模塊,需要(yao)溫(wen)循500次。
快速溫變試驗(yan)箱具斷電記(ji)憶裝置及(ji)復電時(shi)機(ji)臺(tai)之(zhi)再(zai)啟動模式冷(leng)機(ji)啟動、熱機(ji)啟動,內建(jian)15項全(quan)功能之(zhi)系統偵測感知(zhi)裝置,以確保機(ji)臺(tai)之(zhi)安(an)全(quan)運轉,當感知(zhi)異常故障(zhang)時(shi)立即切(qie)斷機(ji)臺(tai)之(zhi)控制電力,并自(zi)動顯示故障(zhang)發生時(shi)間,異常之(zhi)項目(mu)及(ji)排除對策。
武漢光器(qi)件ESS恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕溫(wen)循箱(xiang) 適用于光器(qi)件、光電子(zi)、電工、電子(zi)、儀器(qi)儀表及其它產(chan)品、零部件在高(gao)低(di)溫(wen)交變(bian)濕熱環(huan)境下貯存(cun)、運(yun)輸(shu)、使用時的適應性試驗。
快(kuai)速(su)溫(wen)(wen)(wen)變(bian)(bian)型恒(heng)(heng)溫(wen)(wen)(wen)恒(heng)(heng)濕試驗(yan)箱(xiang)是一種(zhong)在(zai)瞬間實現(xian)溫(wen)(wen)(wen)度的(de)快(kuai)速(su)轉化的(de)試驗(yan)設備,適用于儀器(qi)、儀表(biao)、電工(gong)、電子(zi)產品(pin)整機及零部件(jian)在(zai)溫(wen)(wen)(wen)度快(kuai)速(su)轉變(bian)(bian)的(de)情況下檢測(ce)產品(pin)的(de)各項(xiang)性能指標,以避免該產品(pin)于使用過(guo)程中,受到環(huan)境應力(li)的(de)考(kao)驗(yan)時而導致失(shi)效(xiao)(xiao),造成(cheng)不必要的(de)損失(shi),對于提高產品(pin)出貨(huo)良率與(yu)降低返(fan)修(xiu)次數有顯著的(de)效(xiao)(xiao)果。
快速溫變濕熱試驗(yan)箱主要是針(zhen)對(dui)于(yu)電工、電子產品,以(yi)及其原器件,及其他材料(liao)在高(gao)溫、低(di)溫速變的環境(jing)下儲存、運輸、使用時的適應性試驗(yan)。
武漢快速(su)溫(wen)(wen)變(bian)(bian)試驗室設(she)置一定的(de)(de)溫(wen)(wen)度變(bian)(bian)化速(su)率進行高(gao)溫(wen)(wen)與(yu)低(di)溫(wen)(wen)之間的(de)(de)轉變(bian)(bian),確定產品在高(gao)溫(wen)(wen)、低(di)溫(wen)(wen)快速(su)或(huo)緩慢變(bian)(bian)化的(de)(de)氣(qi)候環境下的(de)(de)儲存、運輸、使用(yong)的(de)(de)性應(ying)性。
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